Определение количественных характеристик надежности по статистическим данным об отказах изделия

Информац. системы

Критерии надежности
Задачи
Расчет характеристики
Типовые примеры
Отказы изделия
Информатика лекции.
Аналит. определение
устройств обработки данных
Постоянное резервир.
Расчет надежности изделия
Резервирование замещением
Характеристика зон
Аппаратные средства
персонального компьютера
Конвертирование цветовых
моделей
Расчет надежности
Скользящее резервирование
Расчет показателей
Учебник JAVA
Базовые понятия
Сети Token Ring
Продукт для архитектурного
моделирования
.
Механика
Объектно-ориентированное
программирование
Работа со строками и классами
Графические примитивы
Обработка событий в JAVA
Апплеты
Создание сетевых приложений
Сетевые средства в JAVA
Экспертные системы
Учебник Delphi
Топология сетей
Персональный компьютер
Адресация
Структура сети
Сетевые службы
Маршрутизаторы
Механические приложения
двойного интеграла
Технологии ISDN
Протоколы маршрутизации
Модель OSI
Корпоративные сети
Стек протоколов TCP/IP
Коммутация каналов
Коммутация пакетов
Удаленный доступ
Система доменных имен
Моделирование
Основы кодирования
Теория информ. процессов
Обмен информацией
Количество информации
Энтропия
Кодирование
Квантование и дискретизация
Теорема Котельникова
Ошибки дискретизации
Учебник по FrontPage
Информационный подход
SQL язык запросов
Ос новные понятия
Выборка данных

Манипулирование данными

Создание базы данных
Устройство ПК
Архитектура ПК
Классификация элементов
Центральный процессор
Внешние устройства
Программное обеспечение

 

Решение типовых задач

На испытание поставлено 1000 однотипных электронных ламп, за 3000 час. отказало 80 ламп. Требуется определить P*(t), q*(t) при t = 3000 час. 

На испытание было поставлено 1000 однотипных ламп. За первые 3000 час. отказало 80 ламп, а за интервал времени 3000 - 4000 час. отказало еще 50 ламп. Требуется определить статистическую оценку частоты и интенсивности отказов элвктронных ламп в промежутке времени 3000 - 4000 час.  Постоянный электрический ток Курс лекций по физике

На испытание поставлено N = 400 изделий. За время t = 3000 час отказало 200 изделий, т.е. n(t) = 400-200=200.За интервал времени (t, t+Dt) , где Dt= 100 час, отказало 100 изделий, т.е. Dn(t)= 100. Требуется определить Р*(3000), 

На испытание поставлено 6 однотипных изделий. Получены следующие значения ti (ti  - время 6езотказной работы i- го изделия) : t1 =280 час; t2 = 350 час; t3 =400 час; t4 =320 час; t5 =380 час; t6 =330 час. 

За наблюдаемый период эксплуатации в аппаратуре было зафиксировано 7 отказов. Время восстановления составило: t1 =12мин.; t2=23мин.; t3 =15мин.; t4=9мин.; t5=17мин.; t6=28мин.; t7=25мин.; t8=31мин. Требуется определить среднее время восстановления аппаратуры

В результате наблюдения за 45 образцами радиоэлектронного оборудования получены данные до первого отказа всех 45 образцов, сведенные в табл.1.1. Требуется определить mе*.

Maya 3D графика в кино и телевидении Воздействие испытаний ядерного оружия на здоровье населения Объектно-ориентированный язык программирования Java Объектно-ориентированное программирование Delphi Библиотека визуальных компонентов VCL и ее базовые классы Кроссплатформенное программирование для Linux Элементы управления Win32 Элементы управления Windows XP Файлы и устройства ввода/вывода Что такое экспертная система? Объектно-ориентированное программирование Инструментальные средства разработки экспертных систем Программирование на языке CLIPS Критерии и количественные характеристики надежности Расчет характеристик надежности невостанавливаемых резервированных изделий Расчет надежности системы с постоянным резервированием Интегрирование тригонометрических функций ;